2008-07-01 メンテナンス情報 : 端末設備のHINET2007への移行に伴う利用停止および可用性試験について

日頃より、計算機システムおよびネットワークの運用にご理解とご協力をいただき、ありがとうございます。

下記の日程で
 1.端末設備のHINET2007への移行
 2.HINET2007の可用性試験
の作業を行います。

ご不自由をおかけしますが、よろしくお願いいたします。


             記

1.霞地区、東千田地区に設置されている端末室の機器を HINET2007に移行します。
  作業時間中は該当する端末室を閉室としますので、ご注意ください。

  端末設備のHINET2007への移行
    日時:2008年7月6日(日) 8:00-12:00
    対象:霞地区(端末室、情報演習室)
        東千田地区(計算機室1、計算機室2)
    影響:該当する端末室が利用できません。

2.HINET2007の基幹設備およびサービスの可用性試験(※)を行います。
  サービス停止は発生しない見込みですが、試験中は一時的にサービスの動作が不安定になる場合があります。

  HINET2007の可用性試験
    日時:2008年7月6日(日) 9:00-19:00
    対象:HINET2007の基幹設備およびサービス
    影響:HINET2001、HINET2007ともに通信断や通信遅延が発生する場合があります。       
    HINET2007に接続している機器においては、一時的にIPアドレスが取得できない、認証ができないなどの現象が発生する場合があります。

    ※可用性試験とは、冗長構成のシステムにおいて一方の機器に障害などが発生した場合に、他方に自動的に切り替わることでサービスが継続して提供されることを確認する試験です。


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Information Media Center, Hiroshima University.